作者：孙延林 字数：23.4万字 出版社：电子工业出版社

随着我国电子信息产业的迅猛发展、特别是智能化、生物信息化、云计算等发展促进了微电子快速发展，与此同时ESD/EOS/EMI（静电放电/电流与电压过载/电磁干扰）问题对微电子产品质量的不良影响也在日益显著。为了预防ESD/EOS/EMI对微电子产品不良影响与危害，促进微电子产品质量提高，应广大电子生产、科研、防静电装备（产品）生产企业科研人员和广大职工的要求，作者编著了【电子工业静电与电路EOS/EMI防护技术】一书。本书详细介绍了电子工业静电防护原理、静电放电模型与静电敏感器件的分级、电子电路EOS/EMI应对方案、防静电工作区构成的基本要求、防静电装备（产品)技术参数与使用注意事项、防静电工艺与质量管理等方面内容，并介绍了国际电工委员会标准IEC 61340、美国标准ANSI/ESD S20.20近年技术发展情况。

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